为什么表面污染测量仪要经过适当刻度？

　　表面污染测量仪用探测器在可能受到污染的表面上方进行移动测量，以确定受污染的区域或点位，在发现异常点位时再进行定位测量。

 

　　在环境辐射的测量中，对室内、外场地及物体的表面污染进行直接或间接测量，对于及时发现是否有污染以便采取决策行动是十分重要的。表面污染测量的基本要求是及时发现是否有污染，确定污染点位和范围，并给出污染区域内污染核素的量值。

 

　　表面污染测量仪有便携式的和车载式的，更先进的表面污染监测管理系统也已经开发，用的是位置灵敏探测器，它不仅可以准确给出污染点位，同时还可在显示屏幕上三维显示污染图像和量值。表面污染监测的对象主要是发射α、β或γ的核素，测量方式有α污染测量，β污染测量，α／β污染测量，α／γ污染测量。

 

　　表面污染可以用直接测量、扫描测量和间接测量确定。直接测量是用监测仪器进行，可以测量固定污染，也可测量松散污染；测量时，以适当距离在待测对象的上方放置探测器，按预定时间间隔测量并记录读数。

 

　　间接测量是用擦拭方法确定松散污染的水平。对一些不能活动的固体或者贮存有液体的表面，或者有高本底影响，或者测量仪器不能靠近表面，直接测量是困难的，甚至是不可能的。此时只能采用间接测量方法。

 

　　为了准确测量总的表面活度，现场监测仪器要经过适当刻度。刻度源应选择其发射的α或β辐射与现场污染物预期的辐射能量相似。有代表性的刻度源要用现场被评估的放射性材料制备。