表面污染测量仪什么时候需要使用间接测量方法？

　　表面污染测量仪用于直接测量的表面污染测量仪要能够探测低于规程限值水平的污染。测量时，探测器要尽可能靠近表面移动，一旦探测到污染，探测器应在该区域定位测量足够时间，以确认污染水平。

 

　　表面污染测量仪对被检测对象表面可以看得见的污物或氧化物在不能去除的情况下，要考虑对污染源效率的影响。在表面不是很平整的情况下，要评估检测对象表面形状对仪器效率的影响。

 

　　为了准确测量总的表面活度，现场监测仪器要经过适当刻度。刻度源应选择其发射的α或β辐射与现场污染物预期的辐射能量相似。有代表性的刻度源要用现场被评估的放射性材料制备。

 

　　表面污染测量的基本要求是及时发现是否有污染，确定污染点位和范围，并给出污染区域内污染核素的量值。常用的表面污染监测仪器是便携式的和车载式的，更先进的表面污染监测管理系统也已经开发，用的是位置灵敏探测器，它不仅可以准确给出污染点位，同时还可在显示屏幕上三维显示污染图像和量值。表面污染监测的对象主要是发射α、β或γ的核素，测量方式有α污染测量，β污染测量，α/β污染测量，α/γ污染测量。

 

　　表面污染可以用直接测量、扫描测量和间接测量确定。直接测量是用监测仪器进行，可以测量固定污染，也可测量松散污染；测量时，以适当距离在待测对象的上方放置探测器，按预定时间间隔测量并记录读数。

 

　　对一些不能活动的固体或者贮存有液体的表面，或者有高本底影响，或者测量仪器不能靠近表面，直接测量是困难的，甚至是不可能的。此时只能采用间接测量方法。